IIP2 Testbench
测量系统输入第二截距点
- 库:
射频块组/电路包络/试验台
描述
使用IIP2 Testbench
用于测量被测射频设备(DUT)的输入第二截距点(IIP2)。
参数
模型的例子
参考文献
拉扎维,Behzad。射频微电子.上马鞍河,新泽西州:Prentice Hall, 2011。
格罗布,齐格弗里德和尤尔根·林德纳。非线性放大器的多项式模型推导。资讯科技部德国乌尔姆大学。
[3]昆特,肯。“IP2和IP3的精确和快速测量”,设计师指南咨询公司.
版本历史
在R2018a中引入