主要内容
De-Embedding的参数
这个示例向您展示了如何提取被测设备(DUT)的s参数。首先，读取一个Touchstone®文件到sparameters对象，其次，计算左右垫的s参数，第三，使用deembedsparams函数并最终显示结果。
本例使用文件中的s参数数据samplebjt2.s2p收集从一个双极型晶体管夹具与键合线(1 nH串联电感)连接到一个债券垫(100 fF)的并联电容在输入,和债券垫(100 fF)的并联电容连接到一个键合线(串联电感1 nH)输出,见图1。
图1:被测设备(DUT)和测试夹具。
本示例还将说明如何消除夹具的影响，以提取DUT的S参数。
阅读量的参数
创建一个sparameters对象，通过读取Touchstone®数据文件，samplebjt2.s2p．
S_测量BJT=散粒流量计(‘samplebjt2.s2p’）;频率= S_measuredBJT.Frequencies;
计算左Pad的s -参数
创建两个端口电路对象，表示包含序列的左侧填充电感器和分流器电容器．然后利用频率计算s参数samplebjt2.s2p．
leftpad =电路(“左”）;添加(leftpad[1 - 2],电感器(1 e-9);添加(leftpad[2 3],电容器(100 e15汽油));setports (leftpad 3 [1], [2 3]);S_leftpad = sparameters (leftpad、频率);
计算右垫的s -参数
创建两个端口电路对象表示包含序列的右侧填充电感器和分流电容器．然后，利用频率计算s参数samplebjt2.s2p．
rightpad =电路(“对”）;add (rightpad, 3[1],电容器(100 e15汽油));添加(rightpad[1 - 2],电感器(1 e-9);setports (rightpad 3 [1], [2 3]);S_rightpad = sparameters (rightpad、频率);
De-Embed的参数
通过消除输入和输出焊盘的影响，从测量的S参数中去除DUT的S参数(deembedsparams）．
S_DUT = deembedsparams (S_measuredBJT S_leftpad S_rightpad);
在Z Smith®图表上绘制测量和去嵌入的S11参数
使用smithplot函数来绘制测量到的和未嵌入的S11参数。
图hs = smithplot(S_measuredBJT,1,1);持有在…上；smithplot hs (S_DUT 1 1)。ColorOrder = [1 0 0;0 0 1);海关。LegendLabels = {“测量S11”，“De-Embedded S11”}；
在Z Smith图上绘制S22测量参数和去嵌入式参数
使用smithplot用于绘制测量和反嵌入S22参数的函数。
数字保持从；smithplot (S_measuredBJT 2 2)在…上；smsplot (S_DUT,2,2) hs =“gco”）;海关。ColorOrder = [1 0 0;0 0 1);海关。LegendLabels = {“测量S22”，“De-Embedded S22”}；
Plot Measured and deembedded S21 Parameters in分贝
使用rfplot函数来绘制测量和去嵌入的S21参数。
数字保持从；h1 = rfplot (S_measuredBJT 2 1);持有在…上；h2 = rfplot (S_DUT 2 1);传奇(h1, h2, {“测量S_{21}”，“De-Embedded S_{21}”}）;
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