混合信号Blockset

设计、分析和模拟模拟和混合信号系统

Mixed-Signal Blockset™提供了用于设计和验证混合信号集成电路(ICs)的组件和缺陷模型、分析工具和测试平台。

您可以在不同抽象级别对PLL、数据转换器和其他系统进行建模。这些模型可用于模拟混合信号组件以及复杂的DSP算法和控制逻辑。您可以自定义模型,以包括噪声、非线性、抖动和量化效应等损伤。快速系统级模拟使用可变步长Simulink金宝app®解算器允许您调试实现并识别设计缺陷,而无需在晶体管级别模拟IC。

与混合信号分析仪应用程序,您可以分析,识别趋势,并可视化混合信号数据。Cadence Virtuoso ADE MATLAB集成选项允许您将电路级仿真结果的数据库导入MATLAB®。或者,您可以导入SPICE网络表,并使用从IC设计中提取的寄生元素创建或修改线性、时不变电路。该模块集提供了后处理模拟结果的分析功能,以验证规格,适合特征,并报告测量结果。

开始:

混合信号数据分析

分析,确定趋势,并可视化混合信号数据。

混合信号分析仪应用程序

使用混合信号分析仪应用程序交互式可视化,分析和识别混合信号数据在时间和频率域的趋势。
Cadence Virtuoso ADE MATLAB集成选项可以让您导入数据库的电路级瞬态,交流,和直流,仿真结果到MATLAB。

Cadence Virtuoso ADE数据库导入混合信号分析仪应用程序。

系统级设计

使用典型架构的模型设计混合信号系统。使用数据表规范中的值设置模型参数。遵循自上而下的方法,使用白盒模型作为设计的起点。

锁相环设计

在系统级设计和模拟锁相环(PLL)。典型的结构包括带有单模或双模预分频器的整数N锁相环,以及带有累加器或δ-西格玛调制器的分数N锁相环。验证并可视化设计的开环和闭环响应。

ADC和DAC设计

在系统级设计和模拟模数(ADC)和数模(DAC)数据转换器。典型的架构包括flash和逐次逼近寄存器(SAR) adc,以及二进制加权和分段dac。

带时间范围的SAR ADC。

混合信号行为模型

使用积木设计定制混合信号系统,包括常见损伤。

积木图书馆

使用诸如电荷泵、环路滤波器、相位频率检测器(PFD)、压控振荡器(VCO)、时钟分频器和采样时钟源等构建模块设计您的混合信号系统。您可以使用Simscape电气™

PLL积木库。

导入SPICE网络列表

您可以导入SPICE网络列表,并使用从IC设计中提取的寄生元素创建或修改线性时不变电路,使用线性电路向导块。

三阶无源环路滤波器SPICE网表及其传递函数。

建模障碍

在您的模拟中模拟时序影响、相位噪声、抖动、泄漏和其他损害。

时间的不完美

对反馈回路中的上升和下降时间、有限的转换速率和可变的时间延迟进行建模。利用建模的时间效应,您可以运行模拟来评估稳定性和估计锁定时间。

相位噪声和抖动

对ADC中的孔径抖动进行建模,并指定VCO和PLL在频域中的任意相位噪声分布。用眼图块显示效果。

压控振荡器的功率谱和相位噪声分布图。

测试和验证

使用特定于应用程序的指标验证PLL和ADC的性能。在第三方IC设计工具中重用您的测试台。

Testbenches

测量锁相环的锁定时间、相位噪声剖面和工作频率,并表征VCOs、pfd和电荷泵等构建模块的性能。测量adc的交直流特性和孔径抖动。

用于测量直流和交流性能的ADC测试台。

集成集成电路仿真环境

通过协同仿真或使用HDL Verifier™生成SystemVerilog模块,在IC设计环境中重用系统级混合信号模型。对于系统的数字部分,可以使用HDL Coder™生成可合成的HDL代码。