主体内容

易失性缺陷效果闪存ADC

开放模型

例子显示如何自定义数字转换器(ADC)变位概率可测量元概率缺陷验证实现例子还显示可变性对闪存ADC动态性能的影响比较器数字输出模棱两可时(零或一),输出定义为元可变性模棱两可输出表示为NaN.例子模型使用MATLAB函数块向闪存ADC架构添加元性缺陷另一子系统报告苍蝇元概率

FlashADC定制

抽取闪存ADC内部结构添加自定义减值金宝app从混合信号块集库添加闪存ADC块到Siminglinke画布取面罩查找ADC平面结构复制并粘贴全结构再换空画布

删除时钟生成块,因为它不用于提供启动转换时钟外部刺激子系统用于此目的闪存ADC现由三大构件组成

  • FlashADC比较器

  • 发现故障单机柜台

  • 输出数据类型

FlashADC比较器

安市N级Bit闪存ADC使用$2NBETS并行比较器FlashADC比较子系统本身基于MATLABQ代码模拟启动前,比较器计算单个参考电压并存储到矢量中在每个指定边框上,输入比引用使用MATLAB比较向量能力生成温度计代码相似实闪存ADCN级单个参照方块模型

创建10位ADC集位数至10,输入范围至[-11]并INL向量至0.触发器类型保留默认值上升边缘.

发现故障单机柜台

故障认知单子系统执行闪存ADC架构中的缺陷实ADC处理逻辑电路从温度计转换二分法子系统取矢量总和并应用该总和查找表模拟缺失代码,或称泡

设置错误认知对数参数比特数至10,输入范围至[-11]并冒泡代码至家常便饭.触发器类型保留默认值上升边缘.

输出数据类型

输出数据类型子系统处理数据类型转换

断开库链路输出数据类型块与参考库集成输入动态范围至[-11]并双极数据类型至双倍.

实现可变性概率对FlashADC有缺陷

外延ADC比较子系统后设置带MATLAB函数块的触发子系统MATLAB函数块设置温度计代码信号Nans概率统一随机数生成块重置下一相关边缘信号,这就是使用触发子系统的原因使用此代码执行可变性缺陷子系统

函数y=元性% mult = one(规模(u));mult/mand/session/u) < 概率(1) > =NAN百分位化= NaNy=u.*mult端端

提供元概率,通过常量块连接概率端口

实现可计量性概率

测量元性缺陷时计数数Nans并除以完全模拟期间参照者总输出数金宝app简单仿真概率测量实施如下:

插件计有:

  • ADC输出接收闪存ADC生成输出数字码

  • 即时信号接收即时信号表示数字转换速度数字代码生成于端口所接收信号的每个上升端

仿冒性度量

下方模型综合定制闪存ADC输出与元概率测量系统连接模型中导出10位闪存ADCStimuli子系统生成100赫兹模拟信号和100兆赫频率启动转换时表ADC按起始转换时频定义的速率操作仪表板范围提供时间概率数行为显示块显示子系统测量的当前概率运行模拟时间长到看到概率数按期望值定定,在此例为1e-6

NBITS10模型1='flashAdc_metastability.slx'脱机open_system(model1)!open_system([bdroot,/时间范围)sim(模型1);

仿真性能对ADC动态性能

可观察可变性对ADCs动态性能的影响模型显示闪存ADC系统两套搭建:一套可变化,另一套免变换后处理块取减值数字输出转换Nans公元前零数这是因为数字输出带Nans无法被频谱分析器识别为光谱分析有效信号附加ADCAC测量块观察各种性能标度,如SNR、ENOB、噪声底层等模拟结果显示AC分析使ADC性能显著下降并具有可变性,NEOB下层和高噪声楼显示

模型2='flashAdc_metastability_Effect.slx'脱机open_system(model2)!sim2模式

并见

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