嵌入式系统测试的环中模型-速度控制器案例

用于嵌入式系统测试的环中模型-与MATLAB版本2008工作最好。一个案例研究。

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更新2013年11月15日

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由德国柏林弗劳恩霍夫研究所的Justyna Zander和Abel Marrero Perez于2006 - 2008年开发。由Ina Schieferdecker监督。

本文的主要贡献应用于嵌入式系统内建软件。特别地,它指的是用来构建系统的软件模型。提出了一种基于系统模型的功能黑盒测试方法。它与目前应用的形成专用解决方案的测试方法形成对比,通常专门用于具体的测试环境。金宝搏官方网站本文提出的测试框架是在MATLAB®/Simulink®/Stateflow®环境中实现的,称为嵌入式系统测试的环中模型(Mode金宝appl-in-the-Loop for Embedded System test, MiLEST)。

所开发的面向信号特征的范式允许对信号及其特性进行抽象描述。它解决了缺少参考信号流的问题以及系统测试数据的选择问题。许多信号特征被识别出来。此外,预定义的测试模式有助于构建分层测试规范,它支持按照模块化分治原则构建测试规范。同时处理离散信号和连续信号是可能的,因此嵌入式系统的混合行为可以解决。使用MiLEST的测试从需求阶段开始,一直到测试执行级别。这个测试过程中的基本步骤是自动化的,例如测试数据生成和测试评估。

给出了三个基于自适应巡航控制的案例研究。这些示例对应于组件、循环中的组件和集成级测试。此外,还深入研究了测试规范过程、测试模型和结果测试用例的质量。所产生的测试质量度量在测试设计和测试执行阶段应用,以便评估所提议的方法是否以及如何比已建立的技术更有效。

可在GitHub:https://github.com/justynazander/MiLEST

引用作为

Justyna Zander(2023)。嵌入式系统测试的环中模型-速度控制器案例(//www.tatmou.com/matlabcentral/fileexchange/44327-model-in-the-loop-for-embedded-system-test-speed-controller-case), MATLAB中央文件交换。检索

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