这是一个演示数字领域ISI-error修正一个多位数CT DS ADC。这里,ISI-error模型是离散的,基于[1]。
灵感来源于[2],在静态和动态feedback-DAC噪声被数字纠错改正。在[2],温度计编码器用于DAC和修正系数的数量是3 M, M是DAC单元元素的数量。
这个演示表明,使用动态元件匹配DAC编码器(DWA)可以减少按照查询表的数量从3 m修正系数为1,这应该使ISI-error缓解由数字纠错更可行。
这里演示的校正和校准方法是进一步记录[3]。
你需要Delta-Sigma工具箱来运行这个演示。
引用:
[1]l . Risbo r . Hezar b . Kelleci h·基普和m .票价“数字方法在高分辨率采样过量ISI-mitigation多层次的D / A转换器,“IEEE j .固态电路,46卷,没有。12。2011年12月。
[2]m .龙格和f . Gerfers”数字补偿方法取消静态和非线性时变反馈DAC误差法模拟数字转换器,“在proc IEEE国际研讨会上电路与系统(ISCAS) 2017年,2017年5月。
[3]Marko Neitola”两级内部DAC失配为连续时间缓解Delta-Sigma转换器,”2019年8月7日提交给会议2019年IEEE北欧电路和系统。
引用作为
Marko Neitola (2023)。多位数CT DS ADC DWA和ISI-Mitigation(//www.tatmou.com/matlabcentral/fileexchange/67169-multibit-ct-ds-adc-with-dwa-and-isi-mitigation), MATLAB中央文件交换。检索。