数据转换器

模拟逐次逼近寄存器(SAR)和flash模数数据转换器(ADC)

模拟和分析模拟数字数据转换器的性能指标。从典型ADC架构(如SAR或flash ADC)的完整系统级模型开始。修改ADC参数，直到达到所需的系统规格。使用测量和测试平台验证你的设计。

块

采样时钟源	产生带有孔径抖动的时钟信号
δ σ调制器	基于离散δ σ调制器的ADC模型

Flash ADC	采用flash架构的n位ADC
SAR ADC	基于n位逐次逼近寄存器(SAR)的ADC

二进制加权DAC	基于R-2R加权电阻结构的n位DAC
分段DAC	使用较小的dac将大的数字输入转换为模拟信号

比较SAR ADC和理想ADC
本例展示了从混合信号块集(Mixed-Signal Blockset™)到带损伤的理想ADC模型的SAR ADC的比较。
亚稳态损伤对Flash ADC的影响
这个例子展示了如何通过添加亚稳态概率作为减值来定制一个flash模数转换器(ADC)。
比较二进制加权DAC与理想DAC
这个例子展示了混合信号块集的二进制加权DAC与理想DAC模型的比较。
带半带滤波器的Delta Sigma调制器数据转换器
这个示例展示了如何将Delta Sigma Modulator (DSM)数据转换器构建块与用于模数转换器(ADC)应用程序的下游抽取滤波方案一起使用。