测量和Testbenches

分析模拟和混合信号系统的性能指标

利用测量模块和测试台分析混合信号系统的不同基础模块和系统级模型。您可以验证混合信号块集™库中的块，也可以验证您自己定制的块。

对于锁相环，使用测量块来分析性能指标，如相位噪声、参考和分数刺、孔径抖动、定时损伤和锁相时间。使用特定于块的测试凳来验证定制的块。

对于ADC，使用测量块来分析关键性能指标，如孔径抖动、信噪比、信噪比、噪声底、偏移误差和增益误差。

使用系统级测试平台来验证PLL和ADC模型。

块

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锁定时间测量 测量锁相环在给定公差范围内达到目标频率所需的时间
相位噪声测量 计算特定频率偏移向量的相位噪声
PFD和充电泵试验台 相位/频率检测器和电荷泵的通用测试环境
VCO Testbench 通过测量相位噪声指标或VCO特性验证电压控制振荡器(VCO)
锁相环Testbench 通过测量工作频率、锁相时间和相位噪声来验证锁相环系统
ADC交流测量 测量AC性能指标的ADC输出
ADC直流测量 测量ADC输出的直流性能指标
孔径抖动测量 测量周期信号的孔径抖动
ADC Testbench 测量直流和AC ADC输出的性能指标
DAC直流测量 测量DAC输出的直流性能指标
DAC交流测量 测量DAC输出的AC性能指标
DAC Testbench 测量DAC输出的直流和交流性能指标
眼图范围 显示时域信号的眼图

功能

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phaseNoiseMeasure 测量和绘制特定频率偏移点的相位噪声轮廓
inldnl 数据转换器的积分非线性(INL)和微分非线性(DNL)

特色的例子

锁相环输出的相位噪声

锁相环输出的相位噪声

预测锁相环输出的相位噪声，利用锁相环测试平台对锁相环进行仿真，并将仿真结果与理论预测进行比较。
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Flash ADC中亚稳态损伤的影响

Flash ADC中亚稳态损伤的影响

自定义一个闪光模拟到数字转换器(ADC)增加亚稳态概率作为一个缺陷。您可以测量亚稳态概率损害来验证您的实现。实例还显示了亚稳态对ADC动态性能的影响。当比较器的数字输出是不明确的(既不是零也不是一)，输出被定义为亚稳态。模糊输出表示为南。这个例子模型使用MATLAB函数块添加亚稳态损害到一个flash ADC体系结构。另一个子系统实时报告亚稳态概率。
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在ADC中测量偏移量和增益误差

在ADC中测量偏移量和增益误差

如何计算偏置误差和增益误差，以及它们如何影响ADC的传输曲线。偏置误差和增益误差表征了部分模数转换器的线性度误差。
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ADC线性测量使用直方图

ADC线性测量使用直方图

统计测量ADC线性度在物理系统中很流行，因为它的噪声容限和在物理环境中相对简单的实现。本例涵盖了统计线性测量固有的问题，以及在Simulink®中实现这些测量的一些可能的解决方案。金宝搏官方网站金宝app
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混合信号Blockset文档
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