要在系统识别应用程序中创建参数线性和非线性模型的残差分析图,选择模型残油复选框中的模型视图区域。有关创建和使用图的一般信息,请参见处理情节.
要在绘图中包含或排除模型,单击系统识别应用程序中相应的模型图标。活动模型在模型板图标内显示一条粗线。
下表总结了残差分析的plot设置。
剩余分析Plot设置
行动 | 命令 |
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显示0附近的置信区间。 请注意 对于非线性ARX和Hammerstein-Wiener模型,内部置信度是不可用的。 |
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改变用于计算自相关和互相关函数的滞后(数据样本)的数量。 请注意 对于频域验证数据,增加滞后次数会增加残差谱和传递函数的频率分辨率。 |
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(仅输出系统) |
的名称中选择输入-输出通道菜单。 |