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推断诊断检查的残差

此示例显示如何从拟合的ARIMA模型推断残差。对残差执行诊断检查以评估模型拟合。

时间序列是1972年至1991年的对数季度澳大利亚消费价格指数(CPI)。

加载数据。

加载澳大利亚CPI数据。先取差值,然后绘制级数。

负载Data_JAustraliany = DataTable.PAU;T =长度(y);dY = diff (y);图(2:T,dY) xlim([0,T]) title(“澳大利亚CPI差”

差分级数看起来相对平稳。

绘制样本ACF和PACF。

绘制样本自相关函数(ACF)和偏自相关函数(PACF),在差分序列中寻找自相关。

图subplot(2,1,1) autocorr(dY) subplot(2,1,2) parcorr(dY)

样品ACF的衰减比样品PACF慢。后者在滞后2后切断。这一点,连同一级差异,提出了一个ARIMA(2,1,0)模型。

估计一个ARIMA(2,1,0)模型。

指定并估计一个ARIMA(2,1,0)模型。推断用于诊断检查的残差。

Mdl = arima (2 1 0);EstMdl =估计(Mdl y);
ARIMA(2,1,0)模型(高斯分布):值StandardError TStatistic PValue __________ _____________ __________ __________ Constant 0.010072 0.0032802 3.0707 0.0021356 AR{1} 0.21206 0.095428 2.2222 0.02627 AR{2} 0.33728 0.10378 3.2499 0.0011543方差9.2302e-05 1.1112e-05 8.3066 9.8491e-17
[res, ~, logL] =推断(EstMdl y);

请注意,该模型适用于原始系列,而不是差异系列。适合的模型,Mdl,财产D等于1.这就是有一度差异的原因。

这个规范假设一个高斯创新分布。推断出返回对数似然目标函数的值(logL)以及残差(res).

执行残留诊断检查。

标准化推断的残差,并检查正态性和任何未解释的自相关。

stdr=res/sqrt(EstMdl.方差);图子地块(2,2,1)图(stdr)标题(标准化残差的) subplot(2,2,2) histogram(stdr,10) title(标准化残差的) subplot(2,2,3) autocorr(stdr) subplot(2,2,4) parcorr(stdr)

残差呈不相关的近似正态分布。有一些迹象表明存在过量的大残差。

修改创新分布。

为了探究创新过程中可能存在的过度峰度,将具有Student’st分布的ARIMA(2,1,0)模型拟合到原始序列中。返回对数似然目标函数的值,以便您可以使用贝叶斯信息标准(BIC)来比较两个模型的拟合程度。

MdlT=Mdl;MdlT.分布=“t”;[EstMdlT, ~, logLT] =估计(MdlT y);
(2,1,1,0)模型(2,1,1,1,0)模型(2,1,1,0)模型(t)模型(t)模型(t)分布:值(2,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,0)模型(t)模型(t)模型(t)模型(t)模型(t)模型(t)模型(t)模型(t(t)分布)分布:值(t)分布:值(2,值(2,2,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,1,0,0,0.2594 0.95562 2.3643 0.018064差异0.0002472 0.00074618 0.33129 0.74043
[~, bic] = aicbic ([logLT logL], [5 4], T)
bic =1×2-492.5317 - -479.4691

t-创新分布模型(MdlTEstMdlT)有一个额外的参数(t分布的自由度)。

根据BIC,具有学生t创新分布的ARIMA(2,1,0)模型是更好的选择,因为它的BIC值更小(更负)。

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