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模拟和分析模拟数据转换器的性能指标。从典型的ADC架构的完整系统级模型开始,例如SAR或Flash ADC。修改ADC参数,直到您达到所需的系统规格。用测量和试验台验证您的设计。
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将SAR ADC与理想的ADC进行比较
该示例显示了SAR ADC从混合信号块Set™的比较,以具有损伤分析简单ADC的损伤的理想ADC模型。
闪光ADC中常量性损伤的影响
此示例显示如何通过将衡量性概率添加为损伤来定制闪光模数转换器(ADC)。
将二元加权DAC与理想的DAC进行比较
该示例显示了与混合信号块Set TM到理想DAC模型的二进制加权DAC的比较。
使用零级保持块作为采样器实现基本ADC。这种简单的ADC突出了在模数转换器中引入的一些典型损伤,例如光圈抖动,非线性,量化和饱和度。此示例显示了如何使用频谱分析仪块和来自混合信号块Set™的ADC AC测量块来测量此类损害的影响。为了更好地近似真实世界性能,您可以单独启用模型中的损伤。
具有电路级DAC模型的12位连续近似寄存器(SAR)ADC。
使用管道线和纠错第二阶段的6位分级ADC。
这种交错的ADC模型突出了数据转换器引入的一些典型障碍及其对更大系统的影响。
使用参考架构设计SAR ADC并使用ADC TestBench验证ADC。
模型12位过采样插值DAC。
使用参考架构设计和评估分段的DAC并使用DAC Testbench验证DAC。对于此示例,请使用AD9775的数据表。这是一种来自模拟设备的商业设备,现成的14位DAC。
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