使用光谱角制图仪测量光谱相似性
测量高光谱数据中每个像素的光谱之间的光谱相似性分数
=山姆(inputData
,refSpectra
)inputData
和指定的参考光谱refSpectra
采用光谱角度制图仪(SAM)分类算法。使用这种语法来识别高光谱数据立方体中的不同区域或材料。
测量指定的测试光谱之间的光谱相似性分数
=山姆(testSpectra
,refSpectra
)testSpectra
和参考光谱refSpectra
采用SAM分类算法。使用此语法比较未知物质的光谱特征与参考光谱或计算两个光谱特征之间的光谱变异性。
请注意
此函数需要图像处理工具箱™高光谱成像库.你可以安装图像处理工具箱高光谱成像库从附加的探险家。有关安装附加组件的详细信息,请参见获取和管理附加组件.
F.A. A.B. Lefkoff, J.W. Boardman, K.B. Heidebrecht, A.T. Shapiro, P.J. Barloon, A.F.H. Goetz。光谱图像处理系统(SIPS)——成像光谱仪数据的交互可视化和分析。环境遥感44岁的没有。2-3(1993年5月):145-63。https://doi.org/10.1016/0034 - 4257 (93) 90013 - n。