使用wcdiskmargin
计算最坏情况下一次循环和多循环磁盘裕度。这个例子说明,一次一个环的裕度可以对MIMO反馈环的真正鲁棒性给出过于乐观的评估。单个环的边缘可能对其他环内的小扰动敏感。
考虑下图中的闭环系统。
P双输入、双输出的二阶设备和C是一个2x2的静态增益。构造P在状态空间形式中,假设它有一个不确定参数和一些动态不确定性。计算工厂输出的最坏情况的磁盘裕度(要计算工厂输入的裕度,使用L = C*Pu
).
检查在结构数组中返回的最坏情况下每次循环的磁盘边距wcDM
.该结构数组中的每个条目都包含相应通道的最坏情况稳定裕度。
ans =带字段的结构:GainMargin: [0.5298 1.8875] PhaseMargin: [-34.1696 34.1696] DiskMargin: 0.6147 LowerBound: 0.6147 UpperBound: 0.6160 CriticalFrequency: 0最差扰动:[2x2 ss]
结果是wcDM (1)
对指定的不确定范围给出保证的稳定裕度。只要第一个信道的开环增益在0.53到1.88之间变化,闭环对所有信道都保持稳定德尔(p)
指定范围内的值。同样,只要相位变化绝对值不超过34°,闭环就保持稳定。
同样的,wcDM (2)
结果表明,在第二反馈通道中,增益可以在0.52 ~ 1.93之间的任何因子中变化,或者相位可以在35°之间变化,并且在这种变化下系统保持稳定德尔(p)
不确定性。
ans =带字段的结构:GainMargin: [0.5167 1.9352] PhaseMargin: [-35.3450 35.3450] DiskMargin: 0.6372 LowerBound: 0.6372 UpperBound: 0.6386 CriticalFrequency: -2.2950e-08最差扰动:[2x2 ss]
下界返回wcdiskmargin
是理论上保证最坏情况磁盘裕度的最小值。上界对应于特定不确定性范围内接近下界预测的实际扰动。输出wcu
包含每个反馈通道的扰动值。例如,wcu (2)
最糟糕的组合是什么德尔(α)
对于第二个通道,与磁盘边缘的这种最差组合是接近的wcDM (2)
.特别是,DM(2)。UpperBound
而且wcDM(1)。UpperBound
匹配。
ans =带字段的结构:GainMargin: [0.5159 1.9382] PhaseMargin: [-35.4184 35.4184] DiskMargin: 0.6386 LowerBound: 0.6386 UpperBound: 0.6386 Frequency: 2.2950e-08最差扰动:[2x2 ss]
实际上,增益和相位变化同时影响两个信道。要估计关于这些独立和并发变化的稳定裕度,请检查最坏情况下的多回路磁盘裕度。
wcMM =带字段的结构:GainMargin: [0.8836 1.1317] PhaseMargin: [-7.0730 7.0730] DiskMargin: 0.1236 LowerBound: 0.1236 UpperBound: 0.1239 CriticalFrequency: 0最差扰动:[2x2 ss]
多循环边缘比一次考虑一个循环时弱得多。这是因为当两个通道都受到变化的影响时,需要较小的增益(或相位)变化来破坏反馈环路。
你可以想象不确定性是如何影响边际的wcdiskmarginplot
.的标称值和最坏情况值的频率函数绘制(基于磁盘的)增益和相位裕度德尔(α)
以及这种不确定性的20个随机样本。图表显示,不确定性削弱了DC附近的边际。
最后,计算在装置输入和装置输出时增益(或相位)同时变化的多回路余量。当你允许增益(或相位)在更多的地方发生变化时,反馈回路变得更容易不稳定,因此边际变得更小。因此,多回路I/O裕度提供了面对增益或相位变化和鲁棒稳定性的最全面和最保守的评估德尔(α)
不确定性。
wcMMIO =带字段的结构:GainMargin: [0.9363 1.0680] PhaseMargin: [-3.7681 3.7681] DiskMargin: 0.0658 LowerBound: 0.0658 UpperBound: 0.0659 CriticalFrequency: 1.0000e-04最糟的扰动:[1x1 struct]